产品价格 ¥1.00元/台
最小起订量:1 台 可售数量:200 台
W系列微型XRF 使用多毛细管光学器件将X射线束聚焦到7.5um FWHM,这是使用XRF技术进行涂层厚度分析的世界最小的光束尺寸。 这使其非常适合测量样品,例如BGA和较小的焊料凸点。 使用150倍放大倍率相机来测量该比例的特征; 它配有辅助的低倍率辅助相机,用于实时查看样本和鸟瞰宏观图像。 Bowman的双摄像头系统使操作员可以看到整个零件,单击图像以使用高磁摄像头进行缩放,然后定位要编程和测量的功能。
每个轴高度到小于+/-1μm的可编程XY平台用于选择和测量多个点; Bowman模式识别软件和自动对焦功能也可以自动执行此操作。 系统的3D映射功能可用于查看诸如硅晶片的部件上的涂层的形貌。
W系列仪器的标准配置包括7.5μm钼靶光学结构(可选铬和钨)和高分辨率、大窗口硅漂移探测器,该探测器每秒可处理超过2百万次计数。
W系列Micro XRF是Bowman XRF仪器套件中的第7个型号。 与产品组合中的其他产品一样,它可以同时测量多达5个涂层,并运行Xralizer软件以从检测到的光子中量化涂层厚度。 Xralizer软件将直观的视觉控件与省时的快捷方式,精准的搜索功能和“一键式”报告相结合。 该软件还简化了用户创建新应用程序的过程。
W系列Micro XRF是最理想的选择 公司:
需要检测晶圆,引线框架,PCBs
需要快速测量多个样品的多个点
期望在多个样品上实现自动化测量
需要遵守IPC-4552A,4553A,4554和4556
ASTM B568,DIN 50987和ISO 3497
渴望升级旧的XRF的性能和效率–并获得丰厚的以旧换新奖励!
产品规格
机型对比
X射线管: |
50W钼靶射线管 7.5um毛细管光学结构 可选:Cr或W |
探测器: | 优于135eV分辨率的大窗口硅漂移探测器 |
焦距: | 固定为0.02英寸(0.5毫米) |
视频放大倍率: |
在150英寸(20毫米)屏幕上具有微距摄像头的508倍(600倍数码变焦) 10?20倍宏观摄像头 |
工作环境: | 温度介于68°F(20°C)与77°F(25°C)之间,相对湿度小于98%,无冷凝 |
重量: | 190kg(420lbs) |
可编程XYZ平台: |
XYZ行程:300毫米(11.8英寸)x 400毫米(15.7英寸)x 100毫米(3.9英寸) XY桌面:305mm(12“)x 406mm(16”) X轴准确度:2.5um(100u“); X轴***度:1um(40u“) Y轴准确度:3um(120u“); Y轴***度:1um(40u“) Z轴准确度:1.25um(50u“); Z轴***度:1um(40u“) |
元素测量范围: | 13号铝元素到92号铀元素 |
分析能力: |
5层(4层+基材)每层分析10种元素, 成分分析最多可同时分析25种元素 |
滤波器: | 4位置一次滤波器 |
数字脉冲处理: | 4096 多通道数字处理器,自动死时间和逃逸峰校正 |
处理器: |
英特尔,酷睿i5 3470处理器(3.2GHz),8GB DDR3内存, 微软 Windows 10专业版,64位 |
相机: | 1/4''(6mm)CMOS-1280×720 VGA分辨率 |
视频放大倍率: | 150倍:带20英寸屏幕上的微距摄像机(600倍数码变焦)10?20倍:带微距摄像机 |
电源: | 150W,100?240V; 频率范围为47Hz到63Hz |
尺寸(宽x深x高): |
内部:914mm(36'')x 735mm(29'')x 100mm(4'') 外形尺寸:940mm(37“)x 990mm(39”)x 787mm(31“) |
其他新特征: |
Z轴防撞阵列 自动聚焦和自动镭射 模式识别 自定义数据调用 |
本网页所展示的有关【美国博曼高性能毛细管镀层测厚仪】的信息/图片/参数等由的会员【 深圳市鼎极天电子有限公司 】提供,由久企达会员【 深圳市鼎极天电子有限公司 】自行对信息/图片/参数等的真实性、准确性和合法性负责, 本平台(本网站)仅提供展示服务,请谨慎交易,因交易而产生的法律关系及法律纠纷由您自行协商解决,本平台(本网站)对此不承担任何责任。 您在本网页可以浏览【美国博曼高性能毛细管镀层测厚仪】有关的信息/图片/价格等及提供 【美国博曼高性能毛细管镀层测厚仪】的商家公司简介、联系方式等信息。
在您的合法权益受到侵害时,请您致电155-9680-8809,我们将竭诚为您服务,感谢您对久企达的关注与支持!