膜厚测试仪也可称为膜厚测量仪,又称金属涂镀层厚度测量仪,其不同之处为其即是薄膜厚度测试仪,也是薄膜表层金属元素分析仪,因响应国际环保工艺准则,故市场上最普遍使用的都是无损薄膜X射线荧光镀层测厚仪。鼎极天代理的美国博曼高性能XRF镀层测厚仪,三十余年深耕镀层测厚事业经历不断创新、追求品质、获得极度好评如潮
最后更新:2024-11-21
博曼X射线膜厚测试仪主要用于线路板测厚,博曼X射线膜厚测试仪主要基于核心控制软件的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。采用全新数学计算方法,采用FP(Fundamental Parameter)、DCM(Distenco ControlledMeasurement)及强大的电脑功能来进行镀层厚度的计算,在加强的软件功能之下,简化了测量比较复杂镀层的程序,甚至可以在
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由鼎极天代理的非接触式博曼膜厚仪,是利用X射线原理得出镀层实际厚度。膜厚仪主要用于测量电镀产品镀层厚度,膜厚仪可满足用户各种各样的需求。基本上所有电镀件,PCB线路板等都可以测量,系统可对13号铝元素到92号铀元素进行高精度测量分析。鼎极天公司提供各种产品测厚仪,还可以对已使用其它膜厚仪的仪器进行维修和更新
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镀层测厚仪测金属范围:单镀层铜上镀银,铜上镀镍,铜上镀锌,铜上镀锡,铁上镀镍等双镀层如铜上镀镍镀金,铁上镀铜镀镍,铜上镀镍镀银等多镀层如:ABS上镀铜镀镍镀铬,铁上镀铜镀镍镀金等合金镀层如:铁上镀锌镍等如下图是最常见的金属测试元素:
最后更新:2024-11-21
美国博曼(Bowman)BA-100系列 X射线荧光镀层测厚仪 P系列适用于PCB、FPC、LED、SMT、连接器、端子、五金产品、汽车零部件、卫浴洁具、珠宝等行业的镀层厚度测量、材料分析,可测元素广泛,Al13—U92,成份分析最多可达25种元素,最多可测4层镀层+基材层的镀层厚度仪器型号:BA-100-P-MVE,采用预热时间短,长寿命的50W(50
最后更新:2024-11-21
深圳鼎极天代理的博曼BA-100镀层测厚仪P系列可满足以下类型用户的需求:小型镀件领域,如紧固件,连接器或PCB需要测试多个样品的多个位置期望在多个样品上实现自动化测量样品尺寸和应用经常变化符合IPC-4552A,4553A,4554和4556P系列提供了测量各种样品尺寸,形状和数量的灵活性。 它配备了一个可编程XY平台,可在一个固定
最后更新:2024-11-21
博曼团队:30 余年行业经验 以创新,获得行业认可BA-100 工作原理: 对被测样品发射一束一次 X 射线,样品的原子吸收 X 射线的能量后被激发并释放出二次 X 射线。每个化学元素会释放出特定能量的 X 射线。通过测量这些释放出的二次 X 射线的特征能量和强度,X 射线分析仪就能够对被测材料的镀层厚度和成份提供定性和定量分
最后更新:2024-11-21
W系列微型XRF使用多毛细管光学器件将X射线束聚焦到7.5um FWHM,这是使用XRF技术进行涂层厚度分析的世界最小的光束尺寸。 这使其非常适合测量样品,例如BGA和较小的焊料凸点。 使用150倍放大倍率相机来测量该比例的特征; 它配有辅助的低倍率辅助相机,用于实时查看样本和鸟瞰宏观图像。 Bowman的双摄像头系统使操作员可以看
最后更新:2024-11-21