产品价格 ¥1000.00元/台
最小起订量:1 台 可售数量:10000 台
系统方案
普赛斯半导体功率器件C-V测试系统主要由源表、LCR表、矩阵开关和上位机软件组成。LCR表支持的测量频率范围在0.1Hz~1MHz,源表(SMU)负责提供可调直流电压偏置,通过矩阵开关加载在待测件上。功率器件CV测试系统认准普赛斯仪表,详询一八一四零六六三四七六;
进行 C-V 测量时,通常在电容两端施加直流偏压,同时利用一个交流信号进行测量。一般使用的交流信号频率在10KHz 到1MHz之间。所加载的直流偏压用作直流电压扫描,扫描过程中测试待测器件待测器件的交流电压和电流,从而计算出不同电压下的电容值。
系统优势
高精度、大动态范围:提供0V~3500V偏压范围,精度0.1%;
内置CV测试:内置自动化CV测试软件,包含C-V(电容-电压),C-T(电容-时间),C-F(电容-频率)等多项测试测试功能;
兼容IV测试:同时支持击穿特性以及漏电流特性测试;
实时曲线绘制:软件界面直观展示项目测试数据及曲线,便于监控;
扩展性强:系统采用模块化设计,可根据需求灵活搭配;
基本参数
LCR |
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测试频率 |
10Hz-1MHz |
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频率输出精确度 |
±0.01% |
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基本准确度 |
±0.05% |
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AC测试信号准位 |
10mV至2Vrms (1m Vrms 解析度) |
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DC测试信号准位 |
10mV至2V (1m Vrms 解析度) |
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输出阻抗 |
100Ω |
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量测范围 |
|Z|, R, X |
0.001mΩ–99.999MΩ |
|Y|, G, B |
0.1nS–99.999S |
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Cs、Cp |
0.01pF – 9.9999F |
Ls Lp |
0.1nH–9.999kH |
||||
D |
0.00001-9.9999 |
Q |
0.1-9999.9 |
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DCR |
0.001mΩ–9.999MΩ |
Δ% |
-9999%-999% |
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θ |
-180° -+180° |
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SMU |
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VGS范围 |
0 - ±30V(选配) |
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IGSS/IGES |
≥10pA(选配) |
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VDS范围 |
0 - ±300V |
0 - ±1200V |
0 - ±2200V |
0 - ±3500V |
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IDSS/ICES |
≥10pA |
≥1nA |
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源测精度 |
0.03% |
0.1% |
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功能 |
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测试方式 |
点测、图形扫描 |
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测试参数 |
DIODE:CJ、IR、VR MOSFET:Ciss、Coss、Crss、Rg、IDSS、IGSS、BVDSS IGBT:Cies、Coes、Cres、ICES、IGES、VBRCES |
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接口 |
RS232、LAN |
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编程协议 |
SCPI、LabView |
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