BA-100 美国博曼X射线荧光测厚仪

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元素:
13-92
探测器:
SDD
X射线管:
铜管

美国博曼(BOWMANBA-100 系列 X 射线荧光测厚仪 高性能 XRF 镀层测厚仪 关于我们 从 CMI 到 Bowman Bowman 由建立 CMI International 的技术团队创立,并成功发展公司,成为 XRF 电镀测量行业备受尊敬的佼佼者。 Bowman 团队为客户提供了超过三十年的涂层厚度测量和元素分析行业综合经验的优势。博曼致力于提供前沿的分析解决方案,来满足所有制造企业、电镀企业和经销商,所有产品产于美国。目前,在全球四大洲 20 余个国家建立销售和服务网络, 为客户提供灵活高效的镀层厚度测量和元素分析方案。的服务和支持团队为品质保驾护航。

  博曼团队:30 余年行业经验 以创新,获得行业认可

Bowman BA-100 依据 ASTM B568,DIN 50987 和 ISO 3497 标准,符合 IPC-4552A,4553A, 4554 和 4556 规范。采用 X 射线荧光光谱法,仪器通过 X 射线原理,可快速、非破坏无损检 测、准确测量金属底材或非金属底材上的金属镀层。可测 13 号铝元素到 92 号铀元素进行高 精度测量分析,根据镀层种类和结构的不同,一般的可测量厚度范围从几个纳米到 100 微米不等,最多可测 5 层(4 层镀层+底层),每层最多可含 10 种元素,可同时分析合金材料内最多25种元素含量。

BA-100 工作原理对被测样品发射一束一次 X 射线,样品的原子吸收 X 射线的能量后被激发并释放出二次 X 射线。每个化学元素会释放出特定能量的 X 射线。通过测量这些释放出的二次 X 射线的特征能量和强度,X 射线分析仪就能够对被测材料的镀层厚度和成份提供定性和定量分析

  准直器: 拥有不同形状的、尺寸的准直器,确保测量光斑满足客户应用需求; 单准直器:圆形,直径 0.2、0.3、0.5mm 一个任选; 多准直器(4 个为一组) : 0.1、0.2、0.3、0.6mm; 0.05×0.05、0.1、0.2、0.3mm; 0.05×0.25、0.1、0.2、0.3mm(特殊规定请与厂家确认) 可在分析档案中***特定的准直器,测量时自动切换。

博曼BA-100测量线路板金钯镍镀层数据性能:


 


Au(um)

Pd(um)

Ni(um)


准直器系统测试数据

毛细管系统测试数据

准直器系统测试数据

毛细管系统测试数据

准直器系统测试数据

毛细管系统测试数据

1

0.155

0.1617

0.070

0.0641

7.797

8.0301

2

0.165

0.1624

0.065

0.0665

7.822

8.1634

3

0.171

0.1621

0.059

0.0684

8.037

8.0685

4

0.170

0.1617

0.063

0.0679

8.129

8.1856

5

0.164

0.1624

0.056

0.0661

8.003

8.1407

6

0.170

0.1603

0.064

0.0643

8.059

7.9048

7

0.175

0.1618

0.067

0.0658

8.498

8.1259

8

0.156

0.1613

0.065

0.0677

8.545

8.1540

9

0.166

0.1612

0.068

0.0637

8.243

7.9830

10

0.161

0.1599

0.058

0.0687

7.765

8.0811

Average

0.165

0.1615

0.064

0.0663

8.090

8.0837

Range

0.020

0.0025

0.014

0.0050

0.780

0.2808

Max

0.175

0.1624

0.07

0.0687

8.545

8.1856

Min

0.155

0.1599

0.056

0.0637

7.765

7.9048

StdDev

0.007

0.0008

0.005

0.0018

0.274

0.0894

R.S.D(%)

3.95%

0.5171%

7.17%

2.7810%

3.38%

1.1062%

 

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