美国博曼高性能XRF镀层测厚仪

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元素:
13-92
探测器:
SDD
X射线管:
铜管

膜厚测试仪也可称为膜厚测量仪,又称金属涂镀层厚度测量仪,其不同之处为其即是薄膜厚度测试仪,也是薄膜表层金属元素分析仪,因响应国际环保工艺准则,故市场上最普遍使用的都是无损薄膜X射线荧光镀层测厚仪。鼎极天代理的美国博曼高性能XRF镀层测厚仪,三十余年深耕镀层测厚事业经历不断创新、追求品质、获得极度好评如潮的镀层厚度测量范围(可对13号铝元素到92号铀元素进行高精度测量分析)-常见的镀层应用-全新的智能化机型-直观的用户界面- 最前沿的XRF技术,U-Spot多导毛细管技术成为越来越多行业的满意选择可为您提供高精度。


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