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X荧光的原理：对被测样品发射一次X射线，样品的原子吸收X射线的能量后被激发并释放出二次X射线。 通过测量被释放出的二次X射线的特征能量和强度，就能够对被测样品的镀层厚度和成份进行定性和定量分析。
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