Bowman涂层厚度测量仪器来自美国芝加哥，它具有先进的检测技术和先进的软件，该软件使系统还可以确定样品中存在的元素，通过微焦点相机对准X射线光学轴线选择样品的测试区域，由聚焦激光控制的平台能容纳不同高度的样品。

Bowman XRF涂层测量系统符合行业对精度，可靠性和易用性的最严格要求。 紧凑，符合人体工程学的设计使分析便于每个应用，优廉的价格可以快速实现投资回报。

• G系列 珠宝业的过渡金属分析

• B系列 小型电镀样品

• P系列 “多面手”，适用于电子，常规电镀，贵金属

• O系列 较大测量点的薄膜分析

• M系列 采用?-spot多导毛细管技术，分析极小测量点的薄膜

• L系列 大型电镀样品

• W系列 用于测量微电子领域的最小特征

智能化设计，强大的分析

• 几秒内完成金属镀层无损分析

• 成分分析最多可分析25种元素

• 同时测量多达五个涂层，所有涂层都可以是合金

• 基础参数法-半定量分析厚度与成分

• 轻松设置和操作 - 一根USB完成连接

• 简洁的前控制面板

• 占地面积小

• 轻量化设计，方便挪动

直观的用户界面

• 提供分析灵活性，同时减少用户出错机会

• 基于.Net框架 Xralizer 软件

• 直观的图标引导用户界面

• 强大的定性/无标样分析功能

• 功能强大的标准片库

• 可定制快捷键，方便操作

• 灵活的数据显示和导出

• 强大的报告编辑生成器

性能，强大，便利

• 紧密耦合的几何设计大大提高测量效率和精度

• 经验证的固态探测器可提供更高的分辨率，稳定性和灵敏度

• 仪器预热时间短，X射线管灯丝寿命长

• 可实现银、锡的L线薄膜分析

• 多位置一次滤波器与多规格准直器可供选择

• 灵活的焦距为复杂形状或厚度较大的样品提供测量便利

• 模块化组件设计，维护简单