博曼XRF镀层测厚仪有以下主要特点:

无损检测，无需准备过多测量样品，快速测量，数秒出测量结果，操作简单，上手容易，适应不同类型的基体样品，可对大样品上的细微特征做分析，同时分析多种金属元素，受工业认证机构认可。

XRF探测器，在XRF设备中，以下不同探测器性能的比较：

封气正比计数器，高基线噪音，分辨率差，受气温和湿度影响，经常需要重新校准；

Si-PIN半导体探测器，低噪音水平，高分辨率，检出限大，半导体冷却：非常稳定且不受气候影响

SDD硅漂移探测器，最广的元素测量范围，精确，半导体冷却：非常稳定且不受气候影响

所有Bowman XRF仪器都使用SDD探测器，以获得更好分辨率，和的整体稳定性，确保实现最小的镀层厚度测量和元素分析。